Friedrich-Schiller-Universität Jena
Place
Institut für Festkörperphysik,
Helmholtzweg 5
Einblicke in die Nanowelt mittels Rastersondenmikroskopie
Note
Dauer 45 Minuten, Wiederholung 21:00, Treffpunkt Hof
Restriction
max. 10 Teilnehmer
 
Bild
Tieftemperatur-Rastersondenmikroskop (STM & AFM) der AG Fritz
, ©
Kasper, Uni Jena